产品情报

环境试验・委托试验

电容加速寿命试验系统 TLE

电容寿命试验系统 TLE 60

  • 每通道最大可加载1kV/20mA; 500V/20mA; 250V/50mA,
    自动进行长时间电容寿命评价试验。
  • 系统构成:最多装配20块板,每块板拥有10通道。
  • 因为,每通道的电流量,负载容量大。
    所以,1通道可连接20个〜50个电容,进行寿命测定和伯恩利试验。
  • 因为设定了限流电阻,所以不会损坏测试品。
TLE 规格
加载电压 1~250.00V 10~500.0V 10~1000.0V
测定电压 0~250.00V 0~500.00V 0~1000.0V
测定电流 0~50.000mA
0~5.0000mA
0~500.0 uA
0~50.000mA
0~5.0000mA
0~500.00uA
0~50.000uA
0~20.0000mA
0~2.00000mA
0~200.000uA
0~20.0000uA
泄漏电流 0.500~50.000mA 5.000~50.000mA 4.000~20.000mA
最大负载容量 1200uF/CH 1200uF/CH 1200uF/CH

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